[发明专利]微波介质基板宽带连续介电特性参数的检测方法有效
| 申请号： | 202010667847.0 | 申请日： | 2020-07-13 |
| 公开（公告）号： | CN111880012B | 公开（公告）日： | 2022-03-18 |
| 发明（设计）人： | 蔡龙珠;曾一轩 | 申请（专利权）人： | 东南大学 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人： | 汤金燕 |
| 地址： | 211189 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种微波介质基板宽带连续介电特性参数的检测方法，可以基于两个直线导波结构组建测试装置，在测试装置上固定待测材料的两端，得到两个直线导波结构的散射参数，将散射参数转换成对应的ABCD矩阵，以得到第一直线导波结构对应的第一ABCD矩阵和第二直线导波结构对应的第二ABCD矩阵，基于双线优化的ABCD矩阵，推算出优化后的复传播常数表达式，从而获取直线导波结构的导体损耗和辐射损耗，计算介质损耗，确定介质基板介质损耗正切，以对综合相数、直线损耗、有效介电常数、介质基板介电常数、介质损耗和介质基板介质损耗正切等介电特性参数进行准确检测，使检测得到的介电特性参数具有较高的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 微波 介质 宽带 连续 特性 参数 检测 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东南大学，未经东南大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010667847.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
