[发明专利]产生用于存储器子系统中的数据修改期间的错误检测的错误校验数据在审
| 申请号： | 202010669367.8 | 申请日： | 2020-07-13 |
| 公开（公告）号： | CN112214347A | 公开（公告）日： | 2021-01-12 |
| 发明（设计）人： | 陈宁;李娟娥;朱方芳 | 申请（专利权）人： | 美光科技公司 |
| 主分类号： | G06F11/10 | 分类号： | G06F11/10;G11C29/42 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 王龙 |
| 地址： | 美国爱*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及产生用于存储器子系统中的数据修改期间的错误检测的错误校验数据。接收存储第一数据的请求。接收所述第一数据及第一错误校验数据。所述第一错误校验数据可为基于所述第一数据的循环冗余校验CRC操作。通过修改所述第一数据来产生第二数据。通过使用所述第一错误校验数据及所述第一数据与所述第二数据之间的差来产生所述第二数据的第二错误校验数据。 | ||
| 搜索关键词： | 产生 用于 存储器 子系统 中的 数据 修改 期间 错误 检测 校验 | ||
【主权项】：
暂无信息
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