[发明专利]变温工况下可溯源的原位微纳米压痕测试仪器及方法在审

专利信息
申请号: 202010674815.3 申请日: 2020-07-14
公开(公告)号: CN111855457A 公开(公告)日: 2020-10-30
发明(设计)人: 赵宏伟;王赵鑫;张建海;刘鹏;王顺博;李聪;宗翔宇;周水龙;李洪龙;王吉如;张萌;王文阳 申请(专利权)人: 吉林大学
主分类号: G01N3/42 分类号: G01N3/42
代理公司: 吉林长春新纪元专利代理有限责任公司 22100 代理人: 王怡敏
地址: 130000 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明涉及一种变温工况下可溯源的原位微纳米压痕测试仪器及方法,属于精密仪器及材料测试技术领域。宏微切换式机械加载模块、纳米机械加载模块和压入位置光学定位模块固定在龙门横梁上,光学显微原位观测/对针模块光学成像轴线与纳米机械加载模块的加载轴线共面,并与功能切换模块安装在大理石基座台面上,接触/氛围混合变温模块固定在功能切换模块上。采用模块化设计,以微纳米压痕测试仪器为核心,结合多级真空/氛围腔室、压入深度溯源标定模块和多组光学显微成像组件实现变温工况下压入深度标定校准、纳米机械加载微力传感器对针、压入位置精确定位和原位动态监测不同维度测试材料微区力学性能及损伤机制等研究。
搜索关键词: 工况 溯源 原位 纳米 压痕 测试 仪器 方法
【主权项】:
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