[发明专利]插损评估方法、装置、计算机设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202010675987.2 申请日: 2020-07-14
公开(公告)号: CN113935261A 公开(公告)日: 2022-01-14
发明(设计)人: 张利华;刘诗涛;李一峰 申请(专利权)人: 深南电路股份有限公司
主分类号: G06F30/31 分类号: G06F30/31;G06F16/2455
代理公司: 深圳市道臻知识产权代理有限公司 44360 代理人: 陈琳
地址: 518000 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明实施例公开了一种插损评估方法、装置、计算机设备及存储介质。所述方法包括:接收用户输入的待制造PCB的设计参数,其中,所述设计参数包括插损值;根据所述设计参数从预设数据库中获取与所述设计参数相匹配的相同设计;调用所述相同设计的历史插损数据;根据所述历史插损数据利用预设规则进行处理得到插损标准值;根据所述插损标准值判断所述插损值是否满足预设条件,在满足所述预设条件的情况下,判定所述待制造PCB符合插损要求。通过实施本发明实施例的方法可在待制造PCB生产前对其插损能力进行评估,避免在制造PCB时出现不合格的情况,提高PCB的良品率,降低生产成本。
搜索关键词: 评估 方法 装置 计算机 设备 存储 介质
【主权项】:
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