[发明专利]二维综合孔径微波辐射计亮温数据的优化处理方法有效
| 申请号： | 202010676286.0 | 申请日： | 2020-07-14 |
| 公开（公告）号： | CN111811660B | 公开（公告）日： | 2021-06-04 |
| 发明（设计）人： | 赵天杰;彭志晴;施建成 | 申请（专利权）人： | 中国科学院空天信息创新研究院 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00;G01N22/04 |
| 代理公司： | 北京远大卓悦知识产权代理有限公司 11369 | 代理人： | 卞静静 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种二维综合孔径微波辐射计亮温数据的优化处理方法，包括以下步骤：步骤一、根据SMOS亮温数据，分别获得SMOS的H极化亮温数据和V极化亮温数据；同时，根据SMAP亮温数据，获得在时间和空间上与SMOS匹配的SMAP亮温数据；步骤二、根据步骤一得到的亮温数据进行第一次非线性拟合和第二次非线性拟合，再根据平移变换，完成优化处理；或者，根据步骤一得到的亮温数据进行第一次非线性拟合，再根据定点回归拟合，完成优化处理。本发明其能获得优化的多角度亮温，不会造成信息的浪费，又能保持与SMAP的亮温保持高度的一致性。本发明优化后的亮温缺失较少，极大地提高了SMOS数据的空间覆盖程度。 | ||
| 搜索关键词： | 二维 综合 孔径 微波 辐射计 数据 优化 处理 方法 | ||
【主权项】：
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