[发明专利]基于长短期记忆网络的红外热成像式涂层检测方法有效

专利信息
申请号: 202010678512.9 申请日: 2020-07-15
公开(公告)号: CN111781244B 公开(公告)日: 2021-10-26
发明(设计)人: 张坤婷;贾立好;王笑;郭丁飞 申请(专利权)人: 中国科学院自动化研究所
主分类号: G01N25/72 分类号: G01N25/72;G06N3/04;G06T7/00
代理公司: 北京市恒有知识产权代理事务所(普通合伙) 11576 代理人: 郭文浩;尹文会
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明属于红外无损检测领域,具体涉及一种基于长短期记忆网络的红外热成像式涂层检测方法、系统、装置,旨在解决现有涂层检测方法检测实时性差、准确率低、适用性差的问题。本系统方法包括采集物体的待检测区域在受到脉冲热激励前后的红外热像图;对红外热像图进行处理,得到减背景热像序列图;根据减背景热像序列图,构建温度‑时间变化离散序列,并进行滤波处理;基于滤波处理的序列,通过涂层检测网络模型得到待检测区域各位置在涂层厚度方向上的传递截止时间以及涂层涂覆质量分类结果;基于各传递截止时间得到涂覆厚度,并结合对应的涂层涂覆质量分类结果,得到待检测区域的检测结果。本发明提高了检测的实时性、准确度及适用性。
搜索关键词: 基于 短期 记忆 网络 红外 成像 涂层 检测 方法
【主权项】:
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