[发明专利]基于低秩稀疏矩阵分解的纺织品瑕疵检测方法在审
| 申请号： | 202010678742.5 | 申请日： | 2020-07-15 |
| 公开（公告）号： | CN111862027A | 公开（公告）日： | 2020-10-30 |
| 发明（设计）人： | 梁久祯;纪旋;魏敬晨;周明智;张英丽 | 申请（专利权）人： | 常州大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/136;G06K9/46;G06K9/62 |
| 代理公司： | 常州市英诺创信专利代理事务所(普通合伙) 32258 | 代理人： | 张云 |
| 地址： | 213164 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及纺织品检测技术领域，尤其是基于低秩稀疏矩阵分解的纺织品瑕疵检测方法，该检测方法包括以下步骤，首先根据周期信息对周期性纺织品进行分块，获取瑕疵先验，用于指导低秩分解模型，然后加入拉普拉斯正则化以增加背景与缺陷区域之间的距离；最后，采用最优阈值分割算法对生成的稀疏矩阵进行分割，完成缺陷检测；本发明提供了一种基于低秩稀疏矩阵分解的纺织品检测方法，通过块分割法确定瑕疵先验，加入到低秩分解模型中，构建权重的低秩分解模型，增加了对较大瑕疵块的检测精度，通过拉普拉斯正则项，增大瑕疵区域与背景之间的距离，进一步提升对瑕疵的检测精度与鲁棒性。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 稀疏 矩阵 分解 纺织品 瑕疵 检测 方法 | ||
【主权项】：
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