[发明专利]NORD闪存及其制作方法有效

专利信息
申请号: 202010679957.9 申请日: 2020-07-15
公开(公告)号: CN111696991B 公开(公告)日: 2022-10-04
发明(设计)人: 徐然;徐晓俊;熊伟;陈华伦 申请(专利权)人: 华虹半导体(无锡)有限公司
主分类号: H01L27/11521 分类号: H01L27/11521
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 戴广志
地址: 214028 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 本申请涉及半导体集成电路制造领域,具体涉及一种NORD闪存及其制作方法。NORD闪存的制作方法,至少包括以下步骤:提供制作有字线结构和控制栅结构的半导体器件,字线结构包括字线多晶硅,控制栅结构位于字线多晶硅的两侧;对半导体器件的上表面进行无掩膜刻蚀,刻蚀去除字线多晶硅的上层;对字线多晶硅的上表面进行氧化,形成保护氧化层;在保护氧化层上沉积形成氮化硅层;在氮化硅层和保护氧化层的保护下,刻蚀控制栅结构,形成NORD闪存元胞;在相邻NORD闪存元胞之间制作形成隔离沟槽结构。该NORD闪存及其制作方法,可以解决相关技术中保护氧化层均匀性难保证的问题。
搜索关键词: nord 闪存 及其 制作方法
【主权项】:
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