[发明专利]一种正交点激光双测头位姿标定试件在审
申请号: | 202010680652.X | 申请日: | 2020-07-15 |
公开(公告)号: | CN111795644A | 公开(公告)日: | 2020-10-20 |
发明(设计)人: | 陈珂;胡鑫;汪永超 | 申请(专利权)人: | 四川大学 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 610065 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种正交点激光双测头位姿标定试件,其包括三个轴段:装夹轴段、水平测头标定轴段、竖直测头标定轴段;装夹轴段包括夹紧棱柱面和定位圆柱面;水平测头标定轴段包括校准圆柱面、校准偏心圆柱面,以及按标定工位顺序分布的周边找正平面、凸台式阶梯面、“十”字槽、周边校准凸台;竖直测头标定轴段包括圆环式阶梯面、顶部校准凸台、顶部找正平面、”T”型槽;在标定过程中,该试件可满足在正交坐标系对水平测头与竖直测头的标定与校准,相对于单测头位姿标定试件,该试件可有效提高测量范围,并利用多个特征面校准,降低了点激光测头安装过程的俯仰与偏摆误差以及两个测头坐标系的标定误差。 | ||
搜索关键词: | 一种 交点 激光 双测头位姿 标定 | ||
【主权项】:
暂无信息
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