[发明专利]接口测试的方法、装置、电子设备和存储介质在审
| 申请号： | 202010681672.9 | 申请日： | 2020-07-15 |
| 公开（公告）号： | CN113760697A | 公开（公告）日： | 2021-12-07 |
| 发明（设计）人： | 许丹丹;韩威;夏劲伟;刘忠明 | 申请（专利权）人： | 北京沃东天骏信息技术有限公司;北京京东世纪贸易有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 王安娜;张效荣 |
| 地址： | 100176 北京市北京经济技术*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了接口测试的方法、装置、电子设备和存储介质，涉及计算机技术领域。该方法的一具体实施方式包括：根据接收的目标用户指令，确定各待测试接口的测试信息，测试信息包括待测试接口的接口标识和输入参数、待测试接口之间的参数传递关系和目标结果信息；根据待测试接口的接口标识，获取各待测试接口对应目标服务器的地址信息；根据地址信息和参数传递关系，向目标服务器发送访问请求；接收目标服务器发送的响应数据，并根据响应数据和目标结果信息，确定测试结果。该实施方式能够解决需多个相互关联的测试接口进行测试时，通过逐次调用测试来实现，降低接口测试的效率的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 接口 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京沃东天骏信息技术有限公司;北京京东世纪贸易有限公司，未经北京沃东天骏信息技术有限公司;北京京东世纪贸易有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010681672.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：确定出库列表的方法和装置
- 下一篇：一种氟化钇薄膜的制备方法
