[发明专利]微米级颗粒样品自动寻找定位装置及方法在审

专利信息
申请号: 202010681911.0 申请日: 2020-07-15
公开(公告)号: CN111693410A 公开(公告)日: 2020-09-22
发明(设计)人: 张志兵;孙鹏;张志华;李华峰;叶晓东;王容川;刘东;汪志焕;孔令成 申请(专利权)人: 常州先进制造技术研究所;伯明翰大学
主分类号: G01N15/00 分类号: G01N15/00;G01N21/84;G01N21/88;G01N21/95
代理公司: 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司 34101 代理人: 何梅生
地址: 213164 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种微米级颗粒样品自动寻找定位装置及方法,其装置包括单通道视频显微单元、数字图像处理单元、多维度电控位移载台和可编程电控位移驱动单元,用于自动寻找合适的微颗粒样品,以配合主测试仪器上的其它模块对寻找到的微颗粒样品进行所需性能的测试;本发明微米级颗粒样品自动寻找定位方法是沿遍历路径实现扫描式自动样品寻找,以找到即测、测完继续寻找的方式进行在线实时测量,极大地提高了检测效率。
搜索关键词: 微米 颗粒 样品 自动 寻找 定位 装置 方法
【主权项】:
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