[发明专利]一种用于激光烧结过程铺粉均匀性的检测装置及方法有效

专利信息
申请号: 202010683385.1 申请日: 2020-07-15
公开(公告)号: CN111811978B 公开(公告)日: 2022-03-25
发明(设计)人: 姜胜强;龙雪;段春艳;肖湘武;刘思思;刘金刚;杨世平 申请(专利权)人: 湘潭大学
主分类号: G01N5/00 分类号: G01N5/00;B33Y50/00;B33Y40/00;B22F3/105
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 411105 湖南省湘*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明提供一种用于激光烧结过程铺粉均匀性的检测装置及方法,检测装置由收集装置和底板组成,收集装置由固定盖板I、固定盖板II、收集盒组成。检测方法为:将底板放入烧结区,在底板上进行一定次数的铺粉,铺粉完成后将每个收集盒称重并嵌入固定盖板II对应的孔中,然后将排列好的收集盒开口端朝下并紧扣在底板上,将底板与收集装置一并拿出并翻转180度,再将收集盒依次取出,采用电子天平称量收集盒与粉的总重量;将该总重量减去相对应收集盒质量后的差值来表征多次铺粉层的质量,最后通过求解整个收集盒的标准偏差来表征铺粉的均匀性。本发明所采用的检测装置结构简单,且易于实现。
搜索关键词: 一种 用于 激光 烧结 过程 均匀 检测 装置 方法
【主权项】:
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