[发明专利]基于遗传算法的模拟电路故障参数范围确定方法有效
| 申请号： | 202010684995.3 | 申请日： | 2020-07-16 |
| 公开（公告）号： | CN111950221B | 公开（公告）日： | 2022-07-26 |
| 发明（设计）人： | 杨成林;黄建国;刘震 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G06F30/367 | 分类号： | G06F30/367;G06F30/27;G06N3/12 |
| 代理公司： | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人： | 温利平 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于遗传算法的模拟电路故障参数范围确定方法，将元件参数向量作为遗传算法种群的个体，在生成初始种群的时候，将设置的故障元件参数初始范围划分为K个子区间，在每个子区间中生成D个个体，在遗传算法迭代过程中定期对故障元件参数范围进行精细化，在迭代完成后根据最后一代种群提取出故障元件参数的范围。本发明通过遗传算法和精细化故障元件参数范围实现对于故障元件参数范围的精确确定。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 遗传 算法 模拟 电路 故障 参数 范围 确定 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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