[发明专利]一种微米级颗粒计数装置及使用方法在审
| 申请号： | 202010687199.5 | 申请日： | 2020-07-16 |
| 公开（公告）号： | CN111679116A | 公开（公告）日： | 2020-09-18 |
| 发明（设计）人： | 任东晓;李森森 | 申请（专利权）人： | 苏州奕博视觉技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R19/155 | 分类号： | G01R19/155;G01R19/165 |
| 代理公司： | 苏州智品专利代理事务所(普通合伙) 32345 | 代理人： | 王利斌 |
| 地址： | 215127 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种微米级颗粒计数装置及使用方法，包括绝缘外壳与测试触头，绝缘外壳内部分别设有第一弹簧、同心电阻、限流电阻、分流电阻、识别电极、氖管、第二弹簧、后盖与手触电极，使用步骤，同时接触识别电极和手触电极，分流电阻并联在测试触头、限流电阻、氖管、手触电极电路测试，人手只和手触电极接触，氖管启辉，表示带电，同时接触手触电极和识别电极，被测物带有无危险高电势时，电势源内阻很大，降低被测物的带电电位，不启辉，被测物带有危险触电电压，其内阻小，接入分流电阻不降低被测物带电电位，保持启辉。本发明的有益效果：可以在测试被测物是否带电的同时，方便地区分安危电压，分流支路中仅采用电阻元件，结构简单。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 微米 颗粒 计数 装置 使用方法 | ||
【主权项】：
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