[发明专利]一种检测极片粉尘颗粒的方法以及装置在审
| 申请号： | 202010689549.1 | 申请日： | 2020-07-17 |
| 公开（公告）号： | CN111965092A | 公开（公告）日： | 2020-11-20 |
| 发明（设计）人： | 吴辉 | 申请（专利权）人： | 重庆市紫建电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/10 | 分类号： | G01N15/10 |
| 代理公司： | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人： | 李盛洪 |
| 地址： | 405400 重庆市开*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种检测极片粉尘颗粒的方法以及装置，所述方法包括:提取一片待检测的极片；使用制造锂离子电池的隔膜上下平展包覆所述待检测的极片；使用平面压块将所述隔膜和极片进行压紧，所述隔膜和极片在平面压块的作用下紧密接触；所述隔膜和极片在压紧一定时间后，取下平面压块；取下上隔膜，将所述上隔膜平行放置到洁净的第一载玻片和第一盖玻片中，取下下隔膜，将所述下隔膜平行放置到洁净的第二载玻片和第二盖玻片中；将第一盖玻片朝上放置于高倍放大设备中，观察和统计粉尘颗粒的数量，将第二盖玻片朝上放置于高倍放大设备中，观察和统计粉尘颗粒的数量，本发明的方法和装置，操作简单，能直接观察和统计待检测极片上的粉尘颗粒的数量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 检测 粉尘 颗粒 方法 以及 装置 | ||
【主权项】：
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