[发明专利]一种基于超分辨率重建的点阵结构缺陷检测方法及系统在审
| 申请号： | 202010689831.X | 申请日： | 2020-07-17 |
| 公开（公告）号： | CN111833335A | 公开（公告）日： | 2020-10-27 |
| 发明（设计）人： | 温银堂;付凯;张芝威;张玉燕 | 申请（专利权）人： | 燕山大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T3/40;G06N3/04;G06N3/08;G01N23/046 |
| 代理公司： | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人： | 崔玥 |
| 地址： | 066004 河北*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于超分辨率重建的点阵结构缺陷检测方法及系统。该方法包括：获取点阵结构的CT图像；利用Faster R‑CNN检测网络模型中的图像超分辨率重建模块对CT图像进行特征提取，得到高分辨率特征图像；利用Faster R‑CNN检测网络模型中的检测模块对高分辨率特征图像进行缺陷检测，得到高分辨率特征图像中的缺陷参数；缺陷参数包括缺陷类型、缺陷位置和缺陷置信度；缺陷类型包括断点缺陷和粘连缺陷；将缺陷参数映射至CT图像，得到CT图像的缺陷识别结果。本发明可以提高自动识别缺陷的准确率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 分辨率 重建 点阵 结构 缺陷 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
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