[发明专利]光子测量装置及光子测量设备有效
| 申请号： | 202010698734.7 | 申请日： | 2020-07-20 |
| 公开（公告）号： | CN111694043B | 公开（公告）日： | 2023-09-12 |
| 发明（设计）人： | 彭旗宇;杨静梧;谢思维;王宇黎;袁东升 | 申请（专利权）人： | 中派科技（深圳）有限责任公司 |
| 主分类号： | G01T1/202 | 分类号： | G01T1/202;G01T1/16 |
| 代理公司： | 北京睿邦知识产权代理事务所(普通合伙) 11481 | 代理人： | 徐丁峰;戴亚南 |
| 地址： | 518063 广东省深圳市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开一种光子测量装置和光子测量设备。装置包括：反应晶体，反应晶体包括一个或多个晶体单元；电容导体，电容导体包括与一个或多个晶体单元一一对应的一个或多个导体对，每个导体对包括分别布置在对应晶体单元的相对的两侧的第一导体和第二导体，其中，每个晶体单元与对应的导体对构成一个或多个晶体电容单元，每个晶体电容单元包括属于对应晶体单元的任一晶体区域以及夹在该晶体区域两侧的属于对应第一导体的第一导体区域和属于对应第二导体的第二导体区域；检测电路，与电容导体连接，用于检测所有晶体电容单元的介电常数的变化情况，并基于变化情况确定与反应晶体发生反应的高能光子的到达时间。上述装置和设备可实现高精度时间测量。 | ||
| 搜索关键词： | 光子 测量 装置 设备 | ||
【主权项】：
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