[发明专利]一种结构物位移测量系统及其测量方法在审
申请号: | 202010705902.0 | 申请日: | 2020-07-21 |
公开(公告)号: | CN111947578A | 公开(公告)日: | 2020-11-17 |
发明(设计)人: | 徐辉;宋爽;姚鸿梁 | 申请(专利权)人: | 上海同禾工程科技股份有限公司 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02;G06K9/00 |
代理公司: | 上海天协和诚知识产权代理事务所 31216 | 代理人: | 张恒康 |
地址: | 200092 上海市虹口区*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及一种结构物位移测量系统,包括智能摄像机、设置于被测结构物上的特征靶标及智能设备,所述智能摄像机具有内嵌入像素比例算法以及自动识别程序;所述特征靶标为一个标准圆,其上均匀分布有数个特征码,所述特征码中的每一个录入了特征靶标的编号、尺寸及其在该特征靶标内的序号信息;智能摄像机通过镜头与被测结构物的被测平面相对布置,并且其镜头在视野范围内同时能观测到多个被测平面内的多个特征靶标,以及能自动识别所有特征靶标,并根据已知特征靶标上的特征码获取特征靶标的编号与尺寸信息,本发明节约了仪器造价成本,大大提高监测精度,应用便捷高效。 | ||
搜索关键词: | 一种 结构 位移 测量 系统 及其 测量方法 | ||
【主权项】:
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