[发明专利]基于数字电位计的绝对式测圈光电编码器有效
申请号: | 202010708227.7 | 申请日: | 2020-07-22 |
公开(公告)号: | CN111765913B | 公开(公告)日: | 2021-07-06 |
发明(设计)人: | 韩庆阳 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | G01D5/347 | 分类号: | G01D5/347 |
代理公司: | 长春众邦菁华知识产权代理有限公司 22214 | 代理人: | 朱红玲 |
地址: | 130000 吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 基于数字电位计的绝对式测圈光电编码器,涉及光电编码器领域,解决现有绝对式测圈光电编码器体积大,转速受限和装调复杂等问题,光源发出的光经过指示光栅和主光栅后由光电接收管接收,光电接收管探测获得的粗码信号直接传送至MCU主控芯片的AD模块,探测获得的精码信号经放大电路放大后传送至MCU主控芯片的AD模块;MCU主控芯片对AD模块采集的信号进行处理,获得编码器的角位移;并将编码器的旋转圈数则转换成数字电位计的阻值,数字电位计的阻值通过补偿校准电路校准后,获得校正后的数字电位计的阻值;MCU主控芯片获得的角位移和圈数信息传送至上级系统。本发明的光电编码器体积小,装调简单。 | ||
搜索关键词: | 基于 数字 电位 绝对 式测圈 光电 编码器 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,未经中国科学院长春光学精密机械与物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010708227.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。