[发明专利]一种基于分块式扫查及衰减补偿的漏表面波超声成像方法有效
| 申请号： | 202010709388.8 | 申请日： | 2020-07-22 |
| 公开（公告）号： | CN111781274B | 公开（公告）日： | 2023-07-11 |
| 发明（设计）人： | 胡宏伟;周刚;王磊;王向红;周永立;陈小敏;刘芝平;易可夫 | 申请（专利权）人： | 长沙理工大学 |
| 主分类号： | G01N29/06 | 分类号： | G01N29/06;G01N29/04;G01N29/11;G01N29/44 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 410114 湖南省*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种漏表面波超声成像方法，实现了对零件表面或近表面缺陷的检测成像。通过采集不同位置的缺陷波数据，获得漏表面波的衰减曲线，然后使用四轴运动平台进行分块式漏表面波超声B扫描，并对检测数据进行衰减补偿，最后对衰减补偿后的数据进行叠加获得超声成像数据。本发明的技术效果在于采用漏表面波超声检测，无需使用耦合剂，配合运动平台可以实现自动化检测；采用衰减补偿方法解决漏表面在传播过程中的衰减问题，保证缺陷成像精度；采用分块式扫查，解决了漏表面波由于能量衰减严重导致有效检测面积过小的问题，实现大面积检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 分块 式扫查 衰减 补偿 表面波 超声 成像 方法 | ||
【主权项】：
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