[发明专利]存储器装置的系统内测试在审
| 申请号： | 202010709767.7 | 申请日： | 2020-07-22 |
| 公开（公告）号： | CN112309485A | 公开（公告）日： | 2021-02-02 |
| 发明（设计）人： | M·雷达埃利 | 申请（专利权）人： | 美光科技公司 |
| 主分类号： | G11C29/48 | 分类号： | G11C29/48;G11C29/36;G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 王龙 |
| 地址： | 美国爱*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本申请涉及存储器装置的系统内测试。实例系统包含处理资源和耦合到被测系统SUT和所述处理资源的配电板。所述SUT包含存储器装置。所述配电板可经配置以向所述SUT提供电力、将来自所述SUT的第一信号传达到所述处理资源，且将第二信号提供到所述SUT，所述第二信号在所述SUT的操作期间模拟向所述SUT的输入。所述处理资源可经配置以接收选自函数库的函数，以在所述存储器装置的测试期间执行并使得所述配电板在所述SUT的所述测试期间提供所述第二信号。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 装置 系统 测试 | ||
【主权项】：
暂无信息
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