[发明专利]树脂粘贴机在审
申请号: | 202010712066.9 | 申请日: | 2020-07-22 |
公开(公告)号: | CN112289707A | 公开(公告)日: | 2021-01-29 |
发明(设计)人: | 右山芳国;椙浦一辉;柿沼良典;生岛充 | 申请(专利权)人: | 株式会社迪思科 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 于靖帅;黄纶伟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 提供树脂粘贴机,能够降低包覆在晶片上的树脂的厚度偏差。树脂粘贴机具有:加工室,其包含保持部、工作台、树脂提供部、移动部以及硬化部,该保持部对晶片进行保持,该工作台与保持部对置,该树脂提供部向工作台提供液状树脂,该移动部使保持部和工作台相对地接近,该硬化部使液状树脂硬化;温度测定部,其测定加工室中的温度;以及控制部,其对各机构进行控制。控制部包含相关关系数据存储部,该相关关系数据存储部记录温度与各温度下的移动部的移动量之间的相关关系数据来作为即使在不同温度下也用于使包覆的树脂的厚度恒定的数据,参照相关关系数据,将符合温度测定部测定出的温度的移动量设定在移动部中,在晶片上包覆规定的厚度的树脂。 | ||
搜索关键词: | 树脂 粘贴 | ||
【主权项】:
暂无信息
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造