[发明专利]超临界法包覆用30～80目NTO晶体缺陷快速测评方法有效
| 申请号： | 202010718860.4 | 申请日： | 2020-07-23 |
| 公开（公告）号： | CN111879750B | 公开（公告）日： | 2023-02-10 |
| 发明（设计）人： | 贾林;蒋忠亮;刘文亮;张林军;顾妍;陈智群;张冬梅;于思龙 | 申请（专利权）人： | 西安近代化学研究所 |
| 主分类号： | G01N21/65 | 分类号： | G01N21/65;G01N21/95 |
| 代理公司： | 西安恒泰知识产权代理事务所 61216 | 代理人： | 李郑建 |
| 地址： | 710065 陕西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： |
本发明公开了超临界法包覆用30～80目NTO晶体缺陷快速测评方法。用显微拉曼光谱法随机测试10个NTO颗粒1104cm |
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| 搜索关键词： | 临界 法包覆用 30 80 nto 晶体缺陷 快速 测评 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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