[发明专利]提高SSD可测试性覆盖率的方法、装置、设备及介质在审
| 申请号： | 202010719153.7 | 申请日： | 2020-07-23 |
| 公开（公告）号： | CN111858216A | 公开（公告）日： | 2020-10-30 |
| 发明（设计）人： | 李湘锦;张鹏;甘金涛 | 申请（专利权）人： | 记忆科技（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 深圳市精英专利事务所 44242 | 代理人： | 蒋学超 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区蛇口街道蛇*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了提高SSD可测试性覆盖率的方法、装置、设备及介质，其中方法包括：建立库模型的管脚描述；对工具认为不可测试的点进行预处理，找出明显的工具认为不可测试的点；对找出的工具认为不可测试的点进行分析，以找出可以转成可测试的点。本发明通过对工具认为不可测试的点进行建模、分析，将一些工具认为不可测试的点变成可测试的点，提高了覆盖率，极大的提高了测试效率和准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 提高 ssd 测试 覆盖率 方法 装置 设备 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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