[发明专利]测试问题排查方法、装置、电子设备和介质在审
| 申请号： | 202010720446.7 | 申请日： | 2020-07-23 |
| 公开（公告）号： | CN111813691A | 公开（公告）日： | 2020-10-23 |
| 发明（设计）人： | 郑荣廷;杨珂;张立伟;胡松鄂 | 申请（专利权）人： | 中国工商银行股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 夏舒仪 |
| 地址： | 100140 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种由电子设备执行的测试问题排查方法，包括：获取待排查通知报文的排查信息；根据所述排查信息，确定所述待排查通知报文的排查点记录集和配置信息，所述排查点记录集包括多个排查点；确定对所述多个排查点进行排查的最短路径；根据所述配置信息，按照所述最短路径对所述多个排查点进行排查，以获取所述多个排查点的测试结果；以及输出所述测试结果。本公开还提供了一种测试问题排查装置、电子设备和介质。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 问题 排查 方法 装置 电子设备 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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