[发明专利]一种芯片测试监控方法及服务器有效
| 申请号： | 202010721249.7 | 申请日： | 2020-07-24 |
| 公开（公告）号： | CN111880079B | 公开（公告）日： | 2022-12-13 |
| 发明（设计）人： | 姜伟伟 | 申请（专利权）人： | 安测半导体技术（江苏）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G06F16/23 |
| 代理公司： | 北京文苑专利代理有限公司 11516 | 代理人： | 于利晓 |
| 地址： | 225000 江苏省扬州市高*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种芯片测试监控方法及服务器，该方法包括：服务器逐台扫描芯片测试机；服务器查询数据库，获取当前测试数据以及当前测试产品型号，数据库中存储有测试机实时发送给数据库的测试数据；服务器查询产品数据库，获取当前测试产品的卡关条件及标准；比对当前测试数据与卡关条件及标准，如果超标，则触发报警机制。本申请对芯片测试过程中产生的测试数据实时监控分析，一旦发现超标则触发立即报警事件，对测试机立即停机，避免大量的异常测试造成芯片批量报废。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 监控 方法 服务器 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于安测半导体技术（江苏）有限公司，未经安测半导体技术（江苏）有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010721249.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
