[发明专利]一种基于激光超声成像的粗糙部件缺陷尺寸精确测量方法有效

专利信息
申请号: 202010722394.7 申请日: 2020-07-24
公开(公告)号: CN111855801B 公开(公告)日: 2021-04-27
发明(设计)人: 张俊;李晓红;杨兵;丁辉 申请(专利权)人: 武汉大学
主分类号: G01N29/04 分类号: G01N29/04;G01N29/06;G01N29/07;G01N29/44
代理公司: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 代理人: 周舒蒙
地址: 430072 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种基于激光超声成像的粗糙部件缺陷尺寸精确测量方法,该方法为:扫描获得表面波时域信号组;提取无缺陷区域表面波信号作为基准信号;以基准信号最大波幅位置所在时刻为基准绘制二维彩色图;初步识别缺陷影像并设置缺陷评定框;将评定框内所有信号与基准信号作互相关运算和幅值差值运算,分别获得互相关最大值X、时移值τ和幅值差值Δ的二维矩阵;设定三者阈值,以满足XXdec、ττdec和ΔΔdec任意一个条件为准则构建缺陷二值矩阵;剔除二值矩阵异常点,统计零值元素区域,分别获得缺陷区域面积、长度和宽度。本发明可以避免因部件表面粗糙导致的缺陷波幅跳跃和信噪比分布不均问题,实现缺陷尺寸的精确定量测量。
搜索关键词: 一种 基于 激光 超声 成像 粗糙 部件 缺陷 尺寸 精确 测量方法
【主权项】:
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