[发明专利]用于芯片的测试的方法、设备、存储介质和相应的芯片有效
| 申请号： | 202010725015.X | 申请日： | 2020-07-24 |
| 公开（公告）号： | CN111856258B | 公开（公告）日： | 2023-05-09 |
| 发明（设计）人： | 郭子瑜 | 申请（专利权）人： | 北京百度网讯科技有限公司;昆仑芯（北京）科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3177 | 分类号： | G01R31/3177 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 赵林琳;苏耿辉 |
| 地址： | 100094 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开了用于芯片的测试的方法、设备、存储介质和相应的芯片，涉及芯片领域。该芯片包括运算模块。该方法包括：经由该芯片的第一管脚，接收指示该运算模块的测试类型的测试控制信号；基于该测试控制信号所指示的该测试类型，利用第一测试向量对该运算模块执行第一测试；或者利用第二测试向量对该运算模块执行第二测试，其中该第一测试是对该运算模块的存储器进行的测试，该第二测试是对该运算模块的功能逻辑进行的测试。本公开的实施例能够提供一种能够减小管脚数目并且有效控制测试成本的测试方案。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 芯片 测试 方法 设备 存储 介质 相应 | ||
【主权项】：
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