[发明专利]设备校验方法、主控设备、被控设备及可读存储介质在审
| 申请号： | 202010727677.0 | 申请日： | 2020-07-22 |
| 公开（公告）号： | CN112329000A | 公开（公告）日： | 2021-02-05 |
| 发明（设计）人： | 蒋军 | 申请（专利权）人： | 深圳TCL新技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F21/44 | 分类号： | G06F21/44 |
| 代理公司： | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人： | 晏波 |
| 地址： | 518052 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种设备校验方法，包括以下步骤：接收到被控设备发送的被控设备校验信息时，所述主控设备获取所述被控设备校验信息携带的密钥信息；比对所述主控设备中预存的第一密钥集中的各个预设密钥信息与所述密钥信息；在所述第一密钥集中存在与所述密钥信息匹配的预设密钥信息时，在第一密钥集中选取预设密钥信息，并根据选取的所述预设密钥信息生成主控设备校验信息；将所述主控设备校验信息发送至所述被控设备，以供被控设备根据所述主控设备校验信息中的密钥信息以及所述被控设备预存的第二密钥集中的预设密钥信息验证所述主控设备。本发明还公开了一种主控设备、被控设备及可读存储介质，提高了设备校验的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 设备 校验 方法 主控 被控 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
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