[发明专利]一种高精度电容参数测试的系统及方法有效
申请号: | 202010735273.6 | 申请日: | 2020-07-28 |
公开(公告)号: | CN111766451B | 公开(公告)日: | 2022-11-25 |
发明(设计)人: | 李兴冀;杨剑群;吕钢 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26 |
代理公司: | 北京隆源天恒知识产权代理有限公司 11473 | 代理人: | 涂杰 |
地址: | 150001 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | 本发明提供了一种高精度电容参数测试的系统及方法,涉及测试技术领域,包括:获取注入微弱高频信号后的被测电容的调制电压和调制电流,其中,高精度电容参数测试系统的信号注入电路用于产生微弱高频信号,高精度电容参数测试系统的检测电路用于检测检测电压和检测电流,高精度电容参数测试系统的IQ调制电路用于对检测电压和所述检测电流进行IQ调制输出调制电压和所述调制电流;根据调制电压和调制电流,确定被测电容的电容值。本发明提供微弱高频信号注入的方法可以实现电容在线测量,简化了测试环境搭建过程,同时,对检测电流和检测电压进行同步IQ变换,利用其零频信息进行信息获取,实现高精度和高速度兼备的电容测量。 | ||
搜索关键词: | 一种 高精度 电容 参数 测试 系统 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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