[发明专利]屏幕残影的测试方法在审
| 申请号： | 202010738693.X | 申请日： | 2020-07-28 |
| 公开（公告）号： | CN113176677A | 公开（公告）日： | 2021-07-27 |
| 发明（设计）人： | 骆志锋;卢建灿;胡燮;许仕林 | 申请（专利权）人： | 深圳同兴达科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384 | 代理人： | 彭涛;刘曰莹 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙华区观澜街道新澜*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： |
本发明涉及屏幕显示技术领域，尤其涉及一种屏幕残影的测试方法，包括如下步骤：步骤S1：将屏幕上的像素点的灰度值全部设置为128；步骤S2：将屏幕按8*8分区；步骤S3：第一次测量并记录各分区块中心点的亮度值LV |
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| 搜索关键词： | 屏幕 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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