[发明专利]一种电光相位调制器残余幅度调制系数的测试装置及方法有效

专利信息
申请号: 202010743516.0 申请日: 2020-07-29
公开(公告)号: CN111970051B 公开(公告)日: 2022-03-22
发明(设计)人: 邹新海;亓林;郭俊启;黎人溥;刘宇 申请(专利权)人: 重庆邮电大学
主分类号: H04B10/079 分类号: H04B10/079;H04B10/50;H04B10/54;H04B10/556
代理公司: 重庆市恒信知识产权代理有限公司 50102 代理人: 陈栋梁
地址: 400065 重*** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明请求保护一种电光相位调制器残余幅度调制系数的测试装置及方法。本发明由激光器、微波信号源、辅助微波信号源、待测电光相位调制器、辅助电光强度调制器、光电探测器和频谱分析模块组成,其中,激光器、待测电光相位调制器、辅助电光强度调制器、光电探测器依次光连接,微波信号源与待测电光相位调制器的输入电极端为电连接,辅助微波信号源与辅助电光强度调制器的输入电极端为电连接,光电探测器输出端与频谱分析模块为电连接;设置微波信号源输出信号频率f1与辅助微波信号源输出信号频率f2的关系为f1≈2f2的情况下,通过频谱分析模块,获得拍频成分f1‑f2和f2成分的功率比值,实现对待测电光相位调制器的残余幅度调制系数的高精度、自校准测试。
搜索关键词: 一种 电光 相位 调制器 残余 幅度 调制 系数 测试 装置 方法
【主权项】:
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