[发明专利]采用激光双扫描策略加工表层图案轨迹生成方法有效

专利信息
申请号: 202010743519.4 申请日: 2020-07-29
公开(公告)号: CN112008248B 公开(公告)日: 2021-05-18
发明(设计)人: 马建伟;王健;贾振元;韩东旭;姜文文;王旭林 申请(专利权)人: 大连理工大学
主分类号: B23K26/362 分类号: B23K26/362;B25J9/16
代理公司: 大连理工大学专利中心 21200 代理人: 关慧贞
地址: 116024 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 发明采用激光双扫描策略加工表层图案轨迹生成方法属于激光加工轨迹规划技术领域,涉及一种采用激光双扫描策略加工表层图案轨迹生成方法。该方法通过对图案划分外区和内区,并分别采用环扫和行扫的扫描策略。首先确定外廓曲线最小曲率半径及其位置,计算由图案轮廓曲线及机床动态性能限制的外区宽度,并与扫描行距匹配。以图案轮廓等距偏置线划分图案为内外区,图案廓形为拼接曲线时内外区分界线还需去自交处理。以扫描行距等距偏置图案轮廓生成外区环扫轨迹,对拼接曲线环扫轨迹时进行自交处理。经去自交处理后轨迹间无交叠,避免实际激光加工中局部过烧。保证扫描速度能够满足机床动态响应能力,所生成加工轨迹与刻蚀图案边缘平滑。
搜索关键词: 采用 激光 扫描 策略 加工 表层 图案 轨迹 生成 方法
【主权项】:
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