[发明专利]基于分子束外延技术的自成结光电探测器及其制备方法有效
申请号: | 202010745094.0 | 申请日: | 2020-07-29 |
公开(公告)号: | CN111933738B | 公开(公告)日: | 2022-05-03 |
发明(设计)人: | 李晨光;张岱南;唐坤;张怀武;李明明 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | H01L31/101 | 分类号: | H01L31/101;H01L31/18;H01L31/0352;H01L31/0288;H01L31/028 |
代理公司: | 电子科技大学专利中心 51203 | 代理人: | 吴姗霖 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明提供一种基于分子束外延技术的自成结半导体光电探测器及其制备方法,属于光电探测器件领域。本发明制备的光电探测器采用非对称PIN浅结结构,将Sb原子在分子束外延设备腔体内采用高温原位掺杂的方法掺杂进Ge薄膜中,将Ge改性为N型半导体;全程制备过程均在分子束外延设备腔体中进行,这样就大大减小了外来杂质的污染,简化了光电探测器制作工艺的流程,且相比传统的离子注入的掺杂方法,该方法不会破坏晶体的晶格结构。 | ||
搜索关键词: | 基于 分子 外延 技术 自成 光电 探测器 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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