[发明专利]用于钻石净度测量的工艺和系统在审
| 申请号： | 202010745197.7 | 申请日： | 2020-07-29 |
| 公开（公告）号： | CN112308818A | 公开（公告）日： | 2021-02-02 |
| 发明（设计）人： | 许冠中;郑家荣;邓詠芝 | 申请（专利权）人： | 金展科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T5/00;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 韩峰;孙志湧 |
| 地址： | 中国香港中环皇后大*** | 国省代码： | 香港;81 |
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| 摘要： | 本发明涉及用于钻石净度测量的工艺和系统。一种可使用计算机化系统来操作的工艺，其包括：(i)采集具有不同聚焦深度的钻石的一个或多个轴向视图图像；(ii)将多个轴向视图组合以形成一个或多个单一光学图像；(iii)在预训练的神经网络中，基于在步骤(i)期间采集的一个或多个单一图像来提供与所述钻石的净度等级相关联的回归值，其中已经利用从各自指配有预先指配的净度等级的多个钻石中采集的一个或多个单一光学图像预训练了预训练的神经网络，并且其中从多个钻石采集的一个或多个单一光学图像通过步骤(i)的同一工艺来提供；以及(iv)从输出模块，通过将来自(ii)的回归值与净度等级相关联来为(i)的钻石提供净度等级。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 钻石 测量 工艺 系统 | ||
【主权项】：
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