[发明专利]基于真空和手征原子媒质分界面的Kerr极化偏转分析方法在审
| 申请号： | 202010748161.4 | 申请日： | 2020-07-30 |
| 公开（公告）号： | CN111950141A | 公开（公告）日： | 2020-11-17 |
| 发明（设计）人： | 曾然;倪鹏飞;张明月;陈伟强;杨淑娜;李浩珍;胡淼;李齐良 | 申请（专利权）人： | 杭州电子科技大学 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G06F17/16 |
| 代理公司： | 浙江千克知识产权代理有限公司 33246 | 代理人： | 周希良 |
| 地址： | 310018 浙江省杭州市*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于真空和手征原子媒质分界面的Kerr极化偏转分析方法，包括：S11.建立真空和手征原子媒质分界面的模型；S12.确定电磁波在真空和手征原子媒质分界面的电磁特性；S13.确定边界条件和初始条件；S14.根据边界和初始条件计算传输矩阵；S15.根据传输矩阵计算电磁波从真空入射到手征原子媒质分界面的反射系数；S16.分析真空和手征原子媒质分界面模型下的反射波极化偏转率和反射光相位差，得到真空和手征原子媒质分界面的Kerr极化偏转的特性。本发明根据极化偏转率分析真空和手征原子媒质分界面的Kerr极化偏转的方法，能准确地分析真空和手征原子媒质分界面的Kerr极化偏转特性。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 真空 原子 媒质 界面 kerr 极化 偏转 分析 方法 | ||
【主权项】：
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