[发明专利]薄互层地震特征分析的方法、系统、存储介质及电子设备在审

专利信息
申请号: 202010748819.1 申请日: 2020-07-30
公开(公告)号: CN114063157A 公开(公告)日: 2022-02-18
发明(设计)人: 马灵伟;孙振涛;刘婵娟;曹辉兰;周丹 申请(专利权)人: 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油物探技术研究院
主分类号: G01V1/30 分类号: G01V1/30
代理公司: 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 代理人: 吴大建;陈敏
地址: 100728 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种优化薄互层储层地震响应特征分析的方法、系统、存储介质及电子设备,其中方法包括以下步骤:根据靶区地质数据、地震数据及测录井数据,构建地下薄互层结构理论模型;基于薄互层结构理论模型,进行正演模拟,获得正演模拟记录数据;对正演模拟记录数据中地震波场信息进行偏移成像,获得理论模型对应的地震偏移剖面;从地震偏移剖面中分别提取地震响应特征进行对比分析,获得不同薄互层结构类别的地震响应特征;根据理论模型和地震响应波形特征,构建薄互层结构简化模型;再进行薄互层储层地震响应特征分析。本发明提供的方法提高了薄互层模型建模速度,从而提升了地震响应特征分析的效率。
搜索关键词: 薄互层 地震 特征 分析 方法 系统 存储 介质 电子设备
【主权项】:
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