[发明专利]碳化硅半导体装置及碳化硅半导体装置的制造方法在审

专利信息
申请号: 202010751541.3 申请日: 2020-07-30
公开(公告)号: CN112466924A 公开(公告)日: 2021-03-09
发明(设计)人: 木下明将 申请(专利权)人: 富士电机株式会社
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/78;H01L21/336
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人: 包跃华;金玉兰
地址: 日本神奈*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 提供一种能够提高可靠性并且能够防止成本增大的碳化硅半导体装置及碳化硅半导体装置的制造方法。第一p+型区(21)以与p型基区(4)分开的方式设置在沟槽(7)的正下方,并在深度方向Z上与沟槽(7)的底面对置。第一p+型区(21)在沟槽(7)的底面露出,并在沟槽(7)的底面与栅极绝缘膜(8)接触。第二p+型区(22)以与第一p+型区(21)和沟槽(7)分开的方式设置于相邻的沟槽(7)之间(台面区)。第二p+型区(22)的漏极侧端部位于比第一p+型区(21)的漏极侧端部更靠源极侧的位置。n+型区(23)以与第一p+型区(21)和沟槽(7)分开的方式设置于台面区。n+型区(23)在深度方向Z上与第二p+型区(22)对置并邻接。
搜索关键词: 碳化硅 半导体 装置 制造 方法
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于富士电机株式会社,未经富士电机株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010751541.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top