[发明专利]一种硅片加热装置在审

专利信息
申请号: 202010756126.7 申请日: 2020-07-31
公开(公告)号: CN111863665A 公开(公告)日: 2020-10-30
发明(设计)人: 赵莉珍;郭恺辰 申请(专利权)人: 西安奕斯伟硅片技术有限公司
主分类号: H01L21/67 分类号: H01L21/67;H01L21/66
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 许静;张博
地址: 710065 陕西省西安市*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 本公开提供一种硅片加热装置,所述加热装置包括:腔室及设置于腔室内的加热板,加热板上设有用于容置硅片的、形状与硅片匹配的凹槽,凹槽的内侧壁用于对硅片的边缘进行加热,凹槽的槽底用于对的硅片的下表面进行加热。本公开实施例所提供的硅片加热装置,通过将加热板设置于一腔室内,可避免硅片置于加热板上热处理时裸露于外界空气中,减少受到外界环境的影响,提高测试结果准确性;同时,在加热板上设置容置硅片的凹槽,可对硅片的边缘及下表面加热,使硅片完整放置于加热板上,只有上表面不受热,不会给硅片带来损伤,有效防止硅片尺寸过大,表面受热不均匀,导致硅片翘曲,无法进行后续的表面金属检测等,有效防止外界环境对测试结果的影响。
搜索关键词: 一种 硅片 加热 装置
【主权项】:
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