[发明专利]恒星光干涉光程差检测及条纹跟踪方法和系统有效
| 申请号： | 202010757686.4 | 申请日： | 2020-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN112097909B | 公开（公告）日： | 2022-10-11 |
| 发明（设计）人： | 侯永辉;魏炜;徐腾;胡中文;张晓杰;姜海娇 | 申请（专利权）人： | 中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所 |
| 主分类号： | G01J3/45 | 分类号： | G01J3/45;G01J3/28;G01J3/02;G01J3/12;G01J3/14 |
| 代理公司： | 江苏致邦律师事务所 32230 | 代理人： | 樊文红;尹妍 |
| 地址： | 210000 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及恒星光干涉光程差检测及条纹跟踪方法和系统，所述该光程差检测方法基于干涉光谱实现，利用色散棱镜获得干涉光束的干涉光谱，有效检测范围达到百微米量级，可快速捕获干涉条纹，同时实现光程差高精度检测。根据光程差检测结果进行条纹跟踪，通过延迟线系统补偿光程差，该延迟线系统由直线位移平台与纳米级压电位移平台组成，利用实时控制算法控制，同时以光程差检测结果作为反馈形成闭环，实现实时的一个波长量级的光程差补偿。本发明光程差检测精度可达一个波长量级、检测范围可达195μm，可快速捕获干涉条纹。本发明光程差补偿为闭环控制，在高效运行的同时，保证了光程差补偿的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 恒星 干涉 光程 检测 条纹 跟踪 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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