[发明专利]一种硅基负极材料的膨胀率的测试分析方法在审

专利信息
申请号: 202010757873.2 申请日: 2020-07-31
公开(公告)号: CN111928805A 公开(公告)日: 2020-11-13
发明(设计)人: 马池;刘兆平;郎庆安;王益;季晶晶 申请(专利权)人: 中国科学院宁波材料技术与工程研究所;宁波富理电池材料科技有限公司
主分类号: G01B21/08 分类号: G01B21/08;G01R31/396;G06F17/11;H01M10/0525
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 豆贝贝
地址: 315201 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明提供了一种硅基负极材料的膨胀率的测试分析方法。本发明将含硅基负极材料的负极极片分别组装成一系列相同的电池,并在组装前,获取各负极极片的初始厚度Hn和负极箔片的厚度H,计算各负极极片的压实密度Pn;然后分别进行不同程度的充放电,产生n个不同的放电比容量Xn,测试各电池中负极极片的厚度hn;按照公式Yn=(hn-H)/(Pn(Hn-H))计算各电池的负极材料膨胀率Yn:再以放电比容量Xn为横坐标、负极材料膨胀率Yn为纵坐标,建立标准曲线;将电池待测样的放电比容量代入所述标准曲线,得到负极极片的膨胀率。上述方法能够简便、准确的获得负极材料的膨胀幅度。
搜索关键词: 一种 负极 材料 膨胀率 测试 分析 方法
【主权项】:
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