[发明专利]一种非光刻图形化掩模的制造方法在审
申请号: | 202010758022.X | 申请日: | 2020-07-31 |
公开(公告)号: | CN111999979A | 公开(公告)日: | 2020-11-27 |
发明(设计)人: | 李中天;姚宇;邓晓帆 | 申请(专利权)人: | 苏州太阳井新能源有限公司 |
主分类号: | G03F1/76 | 分类号: | G03F1/76 |
代理公司: | 苏州吴韵知识产权代理事务所(普通合伙) 32364 | 代理人: | 王铭陆 |
地址: | 215127 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种非光刻图形化掩模的制造方法,包括以下步骤:S1.在衬底上设置一层高分子材料;S2.将这层高分子材料中部分不需要保留的区域接触含有阻聚剂或缓聚剂的溶液;S3.对包含高分子材料的衬底进行热处理;S4.将包含高分子材料的衬底浸在显影溶液或通过喷雾显影法显影,直到高分子材料接触阻聚剂或缓聚剂的区域溶解。本发明和传统光刻工艺或干膜工艺相比,此图形化掩膜的方法不需要光源与曝光过程,并且高分子材料中并不需要添加光敏成分,大幅降低材料成本,在需要低成本掩膜的应用领域。 | ||
搜索关键词: | 一种 光刻 图形 化掩模 制造 方法 | ||
【主权项】:
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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