[发明专利]一种保偏光纤拍长测量装置及测量方法有效

专利信息
申请号: 202010760887.X 申请日: 2020-07-31
公开(公告)号: CN111896222B 公开(公告)日: 2022-06-24
发明(设计)人: 赵耀;高业胜;郑光金;韩正英;尚福洲 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00;G01M11/02
代理公司: 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 代理人: 陈岚崴
地址: 266000 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明公开了一种保偏光纤拍长测量装置及测量方法,其中测量装置包括:压力机构由一对带V型槽的底座和球头千分尺组成,偏振分束干涉仪由分束棱镜1、1/4波片、参考镜1、测量镜1、检偏器和光电探测器1组成,稳频干涉仪由稳频He‑Ne激光器、分束棱镜2、参考镜2、测量镜2和光电探测器2组成,测量镜1和测量镜2放置于同一精密位移机构上,在保偏光纤拍长测量过程中,两者同步进行移动。本发明采用干涉技术测量保偏光纤两个应力点之间的几何长度和对应耦合点之间的光学长度,测量结果可溯源至光学波长标准,大幅提高了保偏光纤拍长的测量精度,并且适用于低双折射保偏光纤拍长的测量。
搜索关键词: 一种 偏光 纤拍长 测量 装置 测量方法
【主权项】:
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