[发明专利]一种等效平板功率反射的测试设备及测试方法在审
| 申请号： | 202010764623.1 | 申请日： | 2020-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN111965448A | 公开（公告）日： | 2020-11-20 |
| 发明（设计）人： | 许群;孟平;丁洪利 | 申请（专利权）人： | 中国航空工业集团公司济南特种结构研究所 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R29/08;G01N23/00 |
| 代理公司： | 中国航空专利中心 11008 | 代理人： | 杜永保 |
| 地址： | 250000*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明属于微波测量技术领域，具体涉及一种等效平板功率反射的测试设备及测试方法；所述测试设备包括测试仪器、微波暗室、圆弧导轨、转台、测试天线、被测件；所述测试仪器、圆弧导轨、转台、测试天线、被测件安装在一微波暗室内；所述转台设置有两个，对称安装在圆弧导轨上，所述测试天线安装在转台上，所述被测件中心位于圆弧导轨的圆心所在轴线上，所述测试仪器通过射频电缆与两测试天线相连，两测试天线的轴线延长线相交于圆弧导轨圆心轴线上。本发明所提出的测试设备可以有效节省微波暗室的体积，这种等效平板功率反射的测试方法，可有效提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 等效 平板 功率 反射 测试 设备 方法 | ||
【主权项】：
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