[发明专利]用于检测表面形貌的方法、设备、介质和系统在审
| 申请号： | 202010766085.X | 申请日： | 2020-08-03 |
| 公开（公告）号： | CN111862086A | 公开（公告）日： | 2020-10-30 |
| 发明（设计）人： | 孙源;巴钟灵 | 申请（专利权）人： | 上海隐冠半导体技术有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/90 |
| 代理公司： | 上海上谷知识产权代理有限公司 31342 | 代理人： | 张平;蔡继清 |
| 地址： | 200135 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种用于检测表面形貌的方法、设备、计算机可读存储介质和系统。该方法包括：基于系统的灰度响应曲线产生至少一个彩色多灰度级编码图像，并通过投影设备将该至少一个彩色多灰度级编码图像分别投影到待检测表面；通过至少一个图像采集设备分别获取每个彩色多灰度级编码图像的一个反射图像，并且计算每个反射图像在相应图像采集设备的参考坐标系下的三维坐标以产生用于指示该至少一个彩色多灰度级编码图像的一组点云数据；以及基于该至少一个彩色多灰度级编码图像的一组点云数据确定该待检测表面的形貌特征。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 表面 形貌 方法 设备 介质 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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