[发明专利]一种中子管靶流离子成分比例的检测方法

摘要

本发明涉及中子管及可控中子源领域，具体涉及一种中子管靶流离子成分比例的检测方法，以解决现有技术中存在的检测束流中离子成分比例的方法会提高中子管生产企业的价格成本和技术成本，还可能造成氚污染的问题。该方法先根据中子管最低加速电压U0计算不同加速电压下的Hi参数，再利用D‑T中子管测量中子产额，然后利用核反应截面与中子产额之间的关系建立中子产额方程，根据中子产额方程解得靶流中D+和D2+离子所占比例。本发明方法无需使用质谱仪，检测过程简单高效。