[发明专利]一种光扰偏器扰偏后光的偏振度测试方法有效
| 申请号： | 202010770012.8 | 申请日： | 2020-08-04 |
| 公开（公告）号： | CN112050943B | 公开（公告）日： | 2023-05-26 |
| 发明（设计）人： | 郭洪龙;刘志明;闫继送;任从文;张冰;刘雷;毕宗义;胡垒军;袁明;王建国 | 申请（专利权）人： | 中电科思仪科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01J4/00 | 分类号： | G01J4/00 |
| 代理公司： | 青岛智地领创专利代理有限公司 37252 | 代理人： | 种艳丽 |
| 地址： | 266555 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： |
本发明公开了一种光扰偏器扰偏后光的偏振度测试方法，属于光学测量技术领域。现有技术使用偏振态分析仪，通过偏振度公式近似求得光扰偏器扰偏后光的偏振度，这种方法所需仪器昂贵、系统复杂。本发明所述方法包括如下步骤：使用单模光纤跳线依次连接保偏光源、偏振控制器、待测光扰偏器、检偏器和光功率计；保偏光源产生偏振态稳定的完全偏振光；利用上位机调整偏振控制器，使偏振控制器输出光偏振态为S |
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| 搜索关键词： | 一种 光扰偏器扰偏后光 偏振 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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