[发明专利]一种基于光热效应的双波长主动式激光测温装置在审
申请号: | 202010771348.6 | 申请日: | 2020-08-04 |
公开(公告)号: | CN111879413A | 公开(公告)日: | 2020-11-03 |
发明(设计)人: | 董伟;安保林;原遵东;卢小丰;王景辉 | 申请(专利权)人: | 中国计量科学研究院 |
主分类号: | G01J5/00 | 分类号: | G01J5/00;G01J5/02 |
代理公司: | 北京华仁联合知识产权代理有限公司 11588 | 代理人: | 陈建 |
地址: | 100013 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种基于光热效应的双波长主动式激光测温装置,包括:第一激光发生器和第二激光发生器;激光调制器、所述激光调制器与所述第一激光发生器和第二激光发生器连接;待测物体的目标表面在第一激光或第二激光的加热下产生温升△T,目标表面在一定立体角内发出的辐射能经物镜和分光镜,温升对应的辐射信号入射到第一光热效应探测器或第二光热效应探测器;光热效应探测器将光信号转化成热信号;放大器将来自第一光热效应探测器和第二光热效应探测器的信号进行放大;计算电路将电信号转换为温度数值;显示仪表用于显示温度测量数值。本装置可摆脱传统辐射测温方法对被测物体表面发射率的依赖,可便捷和准确地获取被测物理的表面真实温度。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 光热 效应 波长 主动 激光 测温 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国计量科学研究院,未经中国计量科学研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010771348.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。