[发明专利]深海环境下的磁异常传感器性能比测装置及比测方法在审
| 申请号： | 202010772556.8 | 申请日： | 2020-08-04 |
| 公开（公告）号： | CN112255705A | 公开（公告）日： | 2021-01-22 |
| 发明（设计）人： | 陈为;王大伟;张明 | 申请（专利权）人： | 中国科学院深海科学与工程研究所 |
| 主分类号： | G01V13/00 | 分类号： | G01V13/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 572000 *** | 国省代码： | 海南;46 |
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| 摘要： | 本发明属于传感器测试领域，具体涉及一种深海环境下的磁异常传感器性能比测装置及比测方法，一种深海环境下的磁异常传感器性能比测装置包括标准磁异常传感器(1)、待比测磁异常传感器(2)、标准磁异常信号发生器(3)、固定支架(4)、标准磁异常传感器固定盖板(5)、标准磁异常传感器上卡箍(6)、标准磁异常传感器下卡箍(7)、待比测磁异常传感器固定盖板(8)、标准磁异常信号发生器固定盖板(9)、标准磁异常信号发生器卡箍(10)，应用于高水压、高腐蚀性、低温的深海环境，具有重量轻、强度高、耐腐蚀的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 深海 环境 异常 传感器 性能 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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