[发明专利]一种太赫兹探测器绝对光谱响应校准方法在审

专利信息
申请号: 202010780076.6 申请日: 2020-08-05
公开(公告)号: CN111947781A 公开(公告)日: 2020-11-17
发明(设计)人: 刘红元;吴斌;王洪超;杨延召;李京松 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28
代理公司: 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 代理人: 陈岚崴
地址: 266000 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明公开了一种太赫兹探测器绝对光谱响应校准方法,黑体辐射源发出的辐射光经过光阑孔对光斑进行限制,通过太赫兹窄带滤波片轮后将产生单色的太赫兹光,再次经过光阑孔后,单色太赫兹光照射到太赫兹探测器或太赫兹功率计上,太赫兹探测器和太赫兹功率计被固定在位移台上,测量时通过控制器旋转滤波片轮,产生某一单色太赫兹光,照射到太赫兹探测器上,通过数据采集系统采集信号,再经过位移台将太赫兹功率计移动到相同位置处测量得到该波长的辐射功率,通过绝对响应率计算公式计算得到某一波长的绝对响应率,通过控制器旋转滤波片轮将得到整个光谱范围内的绝对光谱响应。本发明性能稳定、结构紧凑、使用方便,测试准确度高。
搜索关键词: 一种 赫兹 探测器 绝对 光谱 响应 校准 方法
【主权项】:
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